本书为工业和信息化部“十四五”规划教材，主要介绍晶体学基础与X射线在材料结构、形貌和成分方面的分析技术。其中，结构分析技术包括X射线的物理基础、衍射原理、物相分析、织构分析、小角散射与掠入射衍射分析、位错分析、层错分析、非晶分析、单晶体衍射与取向分析、内应力分析、点阵常数的测量与热处理分析等；形貌分析技术即三维X射线显微成像分析；成分分析技术包括特征X射线能谱、X射线光电子能谱及X射线荧光光谱等。书中研究和测试的材料主要包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料

本书系统讲解了晶体学基础知识、X射线衍射基本理论以及X射线衍射在晶体材料取向分析、应力分析、物相分析、织构分析等方面的应用。全书通过详细的图解对抽象的理论知识、重点和难点进行了详细讲解；对当代各种新技术、新方法做出了富有前瞻性的分析和介绍，力求帮助读者能够轻松愉快的学习。

本书全面介绍了各种现代衍射方法，注重实践案例，特别是在原位测量方面，旨在使读者深入了解现代衍射技术的广泛应用，尤其是与当今材料科学的密切结合，在科学研究中发挥着日益强大的作用。《BR》全书共分四部分，第一部分是衍射揭示晶体结构信息，包括单晶结构解析（第1章）、粉末衍射全谱精修（第2章）和非晶、无序晶体、纳米晶的全散射分析（第3章）；第二部分是衍射材料微结构和缺陷分析，包括第4章的线形分析理论与技术，以及工程技术领域的实际应用，如第5、6章的应力衍射分析，特别是深度分布分析，第7章的取向织构衍射分