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X射线分析方法

X射线分析方法

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  • 作者:巫瑞智,王振强
  • 出版时间:2024/5/1
  • ISBN:9787030776976
  • 出 版 社:科学出版社
适用读者:高等院校材料、化学、冶金等相关专业本科生和研究生,考研学生
  • 中图法分类:O657.39 
  • 页码:207
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:B5
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本书介绍X射线物理学基础、X射线衍射方向和衍射强度、多晶体X射线衍射分析等基本理论知识,在此基础上介绍当前科学研究中经常使用的各种X射线技术,包括利用X射线衍射技术分析材料的物相、残余应力、晶粒尺寸、位错密度、织构等,以及利用X射线光电子能谱分析材料表面元素种类、含量。此外,本书还介绍了近年来基于电子计算机断层扫描技术发展起来的三维X射线显微镜分析方法。
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