本书全面介绍使用Verilog进行RTL设计的ASIC设计流程和综合方法。
本书共20章，内容包括ASIC设计流程、时序设计、多时钟域设计、低功耗的设计考虑因素、架构和微架构设计、设计约束和SDC命令、综合和优化技巧、可测试性设计、时序分析、物理设计、典型案例等。本书提供了大量的练习题和案例分析，可以帮助读者更好地理解和掌握所学的知识。

2009年4月获得西北工业大学信号与信息处理专业硕士学位西安微电子技术研究所（中国航天科技集团公司第九研究院771所）微电子学与固体电子学、计算机科学与技术曾发表《一种面向多核DSP芯片的低功耗验证方法》、《一种RS(24,20)码编译码器设计》、《超声调制声频定向传播性能研究》、《基于层次化事件队列的赋值操作应用》等多篇文章，拥有《一种用于低功耗设计的可重用仿真验证方法》、《一种用于低功耗设计的可重用仿真验证方法》等多项专利

目录
第1章概述1
1.1ASIC设计2
1.2ASIC的类型3
1.3抽象层次5
1.4设计实例8
1.5应该知道的内容9
1.6研制过程中的一些重要术语11
1.7总结11
第2章ASIC设计流程.13
2.1ASIC设计流程 14
2.2FPGA设计流程 21
2.3思考实例 22
2.4挑战 .23
2.5总结 .24
第3章设计基础 25
3.1组合逻辑设计 26
3.2逻辑结构理解和使用 27
3.3算术资源和面积 27
3.4数码转换器29
3.5选择器32
3.6级联选择器34
3.7解码器36
3.8.编码器38
3.9优先级编码器39
3.10ASIC设计方法41
3.11练习41
3.12总结42
第4章时序设计 43
4.1时序设计基本元件44
4.2阻塞和非阻塞赋值44
4.3基于锁存器的设计48
4.4基于触发器的设计50
4.5复位方法 52
4.6分频器 .55
4.7同步设计 58
4.8异步设计 59
4.9复杂设计的RTL设计和验证 59
4.10练习60
4.11总结61
第5章重要的设计考虑因素 63
5.1时序参数64
5.2亚稳态65
5.3时钟偏差65
5.4裕量69
5.5时钟延迟 69
5.6设计面积 70
5.7速度要求 70
5.8功耗要求 71
5.9什么是设计约束？72
5.10练习72
5.11总结73
第6章ASIC设计中重要的设计考虑因素75
6.1同步设计中的考虑76
6.2正时钟偏差对速度的影响77
6.3负时钟偏差对速度的影响78
6.4时钟和时钟的网络延迟79
6.5设计中的时序路径80
6.6频率的计算81
6.7片上变化83
6.8练习83
6.9总结84
第7章多时钟域设计85
7.1多时钟域系统设计的基本策略86
7.2多时钟域设计的问题 86
7.3架构设计策略88
7.4控制信号路径和同步 90
7.5多比特数据传输的挑战94
7.6数据路径同步器95
7.7总结98
第8章低功耗的设计考虑因素99
8.1低功耗设计介绍100
8.2功耗的来源101
8.3RTL设计阶段的功耗优化103
8.4降低动态功耗和静态功耗的技巧107
8.5低功耗设计架构和UPF109
8.6总结112
第9章架构和微架构设计113
9.1架构设计114
9.2微架构设计116
9.3在不同设计阶段使用文档116
9.4设计分区117
9.5多时钟域及时钟分组117
9.6架构调整和性能改进118
9.7处理器中微架构的调整策略118
9.8总结122
第10章设计约束和SDC命令123
10.1重要的设计概念125
10.2如何描述约束条件126
10.3设计挑战128
10.4综合过程中使用的重要SDC命令128
10.5约束验证132
10.6用于DRC、功耗和优化的命令133
10.7总结133
第11章通过RTL的微调实现设计的综合与优化135
11.1ASIC综合136
11.2综合指南137
11.3FSM设计与综合138
11.4复杂FSM控制器的策略139
11.5RTL调整如何在综合过程中发挥作用140
11.6使用RTL调整的综合优化技术144
11.7FPGA综合151
11.8总结152
第12.章综合和优化技巧153
12.1.介绍154
12.2使用DC进行综合155
12.3综合与优化流程156
12.4面积优化技术159
12.5设计分区和结构化161
12.6编译策略163
12.7总结164
第13章设计优化和场景165
13.1设计规则约束166
13.2时钟的定义和延迟167
13.3有用的综合和优化的命令169
13.4时序优化和性能改进172
13.5FSM优化 177
13.6解决保持时间违例 178
13.7报告命令 178
13.8多周期路径 181
13.9总结 182
第14章可测试性设计 183
14.1为什么需要DFT？ 184
14.2测试设计中的故障 184
14.3测试185
14.4DFT过程中使用的策略 185
14.5扫描方法 187
14.6扫描链的插入 189
14.7DFT期间的挑战 189
14.8DFT流程和相关的命令 190
14.9避免DRC违例的扫描链插入规则 191
14.10总结 192
第15章时序分析193
15.1概述194
15.2时序路径194
15.3指定时序目标196
15.4时序报告197
15.5解决时序违例的策略199
15.6总结204
第16章物理设计205
16.1物理设计流程206
16.2基础及重要术语207
16.3布局和电源规划208
16.4电源规划209
16.5时钟树综合210
16.6单元放置和布线212
16.7布线213
16.8反.标215
16.9STA和版图数据的签收215
16.10总结215
第17章案例：处理器的ASIC实现217
17.1功能理解218
17.2架构设计中的策略219
17.3微架构的策略221
17.4RTL设计与验证中的策略223
17.5综合过程中使用的示例脚本224
17.6综合问题和修复224
17.7预布局的STA问题225
17.8物理设计问题227
17.9总结227
第18章可编程的ASIC技术229
18.1可编程ASIC230
18.2设计流程231
18.3现代FPGA结构与元件 .232
18.4RTL设计和验证 .235
18.5.FPGA综合238
18.6FPGA的物理设计241
18.7总结244
第19章原型设计245
19.1FPGA原型246
19.2原型设计中的综合策略247
19.3FPGA综合过程中的约束249
19.4重要的考虑和调整251
19.5用于FPGA综合的IOPAD252
19.6原型设计工具253
19.7总结254
第20章案例：IP设计与开发 255
20.1IP设计与开发 256
20.2选择IP时需要考虑的问题 .256
20.3IP设计中有用的策略 257
20.4基于多个FPGA的原型设计 259
20.5H.264编码器IP设计与开发 261
20.6ULSI和ASIC设计264
20.7总结265
附录267附录A268
附录B.270