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漏磁成像理论与方法/电子信息与电气工程技术丛书

漏磁成像理论与方法/电子信息与电气工程技术丛书

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丛 书 名:电子信息与电气工程技术丛书

  • 作者:黄松岭,赵伟 著
  • 出版时间:2016/7/1
  • ISBN:9787302436591
  • 出 版 社:清华大学出版社
  • 中图法分类:TG115.28 
  • 页码:170
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:1
  • 开本:16K
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  漏磁检测缺陷反演成像理论与技术是近年兴起的研究热点,国内外学者通过大量卓有成效的研究工作,取得了显著的理论成果并进行了工程应用。本书系统介绍了漏磁检测基本原理、缺陷识别与量化理论及其实现技术,主要包括漏磁检测影响因素、检测信号处理方法、缺陷当量尺寸量化方法、缺陷轮廓反演、三维漏磁成像等内容。本书是作者对漏磁检测缺陷反演与成像理论的系统梳理,作者汇集了十多年来的科研与技术应用成果,对于高校师生和从事无损检测技术的工程人员极具参考价值。
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