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深入浅出SSD测试

深入浅出SSD测试

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  • 作者:阿伦[等]著
  • 出版时间:2025/6/1
  • ISBN:9787111780601
  • 出 版 社:机械工业出版社
  • 中图法分类:TP333 
  • 页码:20,352页
  • 纸张:
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  • 开本:24cm
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本书共包含9章的内容。SSD测试概述(第1章),介绍SSD和SSD测试相关的基础知识。(第2-5章),首先基于立项、计划、设计与开发、执行、总结这几个阶段介绍SSD测试的主要工作内容及对应实现方法,然后分享SSD测试的分类以及不同类型测试的设计与实现方法,最后解读SSD的通用测试平台、测试软件和专用测试平台。(第6章),剖析用于主控芯片测试的主要软硬件平台,及在对应平台上进行主控芯片测试的方法。闪存测试(第7章),深入分析闪存的失效模式,以及闪存测试的主要方法。测试认证(第8章),完整解读业界主要的SSD认证测试项目,包括PCI-SIG、UNH-IOL、WHQL以及国内测试标准等。仪器与设备(第9章),重点介绍用于SSD测试的仪器设备,包括RDT可靠性测试设备、协议分析仪等。
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