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典型物联网环境下RFID防碰撞及动态测试关键技术:理论与实践

典型物联网环境下RFID防碰撞及动态测试关键技术:理论与实践

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  • 作者:俞晓磊 著
  • 出版时间:2015/11/1
  • ISBN:9787030463623
  • 出 版 社:科学出版社
  • 中图法分类:TN911.23 
  • 页码:213
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:1
  • 开本:16K
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RFID技术是一项多学科融合的新兴应用技术,已广泛应用于智能交通、图书管理、门禁系统、食品安全溯源等诸多领域。《典型物联网环境下RFID防碰撞及动态测试关键技术:理论与实践》主要针对典型物联网环境下RFID动态测试技术的理论与实践进行了相关研究。全书共分六部分,分别介绍RFID防碰撞及动态测试关键技术、低信噪比环境下超高频RFID系统建模与抗干扰、RFID多标签防碰撞及分布性能检测、基于光电传感的RFID动态检测系统的设计与实现、物联网环境下RFID动态检测的半物理实验验证以及基于RFID的矩阵分析方法等内容。《典型物联网环境下RFID防碰撞及动态测试关键技术:理论与实践》系统阐述了物联网环境下RFID动态测试理论和基本原理,是对典型物联网环境下RFID动态测量系统设计与实现研究方面新进展的总结,内容涉及光、机、电、控一体化以及多学科交叉的理论和实践。
《典型物联网环境下RFID防碰撞及动态测试关键技术:理论与实践》可作为物联网、电子信息、测试计量等相关专业的学习资料,也可供RFID行业技术人员和应用研究人员、物流领域工作者、物联网系统集成商以及对自动识别技术感兴趣的大专院校师生等阅读参考。
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