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公差配合与技术测量(于慧)

公差配合与技术测量(于慧)

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中 教 价:¥16.94  (7.70折)

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  • 作者:于慧 等主编
  • 出版时间:2011/6/1
  • ISBN:9787122106254
  • 出 版 社:化学工业出版社
  • 中图法分类:TG801 
  • 页码:175
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:1
  • 开本:16开
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  《公差配合与技术测量》采用最新标准,编写过程中遵照循序渐进、重点突出、简明扼要的原则,将本书分为公差配合和技术测量两大部分。主要内容包括:极限与配合、几何公差及其检测、表面粗糙度及其检测、测量技术基础、典型零件的公差与配合等。
  《公差配合与技术测量》内容新颖、实用,运用了大量的图表,便于读者对于内容的理解和掌握。每章后面附有思考与练习题,可用于对所学知识的检查与巩固。另外为方便教学,配套电子教案。
  《公差配合与技术测量》可作为高职高专、成人高校、中等职业技术学校相关专业的教材,也可作为培训机构用书,并可供相关工程技术人员参考使用。
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