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数字集成电路功耗与测试综合优化

数字集成电路功耗与测试综合优化

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  • 作者:孙强
  • 出版时间:2016/12/1
  • ISBN:9787302455608
  • 出 版 社:清华大学出版社
  • 中图法分类:TN431.2 
  • 页码:
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:1
  • 开本:32开
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在数字集成电路领域中,随着VLSI集成度和时钟频率的不断提高,使得低层次综合效率越来越低,测试越来越困难,电路功耗问题也越来越突出。研究表明,高层次综合与设计技术能*限度地解决上述难题,优化设计目标。本书运用高层次综合与设计技术,对数字集成电路的功耗与测试综合优化等课题进行深入研究,介绍和提出了一些新的表示模型、设计方法和算法,推动了数字集成电路可测性、低功耗及其相互协调等问题的解决。
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