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微电子器件封装与测试技术

微电子器件封装与测试技术

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丛 书 名:微电子科学与工程专业职教师资培养资源开发

  • 作者:李国良、刘帆
  • 出版时间:2018/2/1
  • ISBN:9787302487562
  • 出 版 社:清华大学出版社
  • 中图法分类:TN405.94 
  • 页码:
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:
  • 开本:16开
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本书主要内容包括微电子器件封装技术和微电子器件测试技术两部分。微电子器件封装技术以典型器件封装过程为任务载体,将其分解为晶圆划片、芯片粘接、引线键合、金属封装、塑料封装、电镀、切筋成型、打印代码、高温反偏、功率老炼10个学习任务,每个学习任务都与生产工作过程紧密对接,从操作程序到操作的关键技术都做了详细的讲述。微电子器件测试技术则注重生产技术的传授,详细介绍了芯片的电参数、可靠性等器件相关测试技术。本书采用了大量生产过程的真实图片和视频,可以缩短学习者与生产现场的距离。 本书可作为微电子专业本科及大专教材,也可作为微电子专业教师能力培训用书,同时可作为从事微电子器件封装与测试工作人员的参考用书。
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