本书通过对数据科学技术基本技能和丰富实用的示例的介绍，展示如何获取、分析和可视化数据，利用数据应对常见的业务挑战。通过优化共享单车公司的业务运营、从网站上提取数据并创建推荐系统等示例，你将学会如何找到数据驱动的解决方案并使用这些方案做出商业决策。本书所涵盖的内容包括进行探索性数据分析、运行 A/B 测试、使用逻辑回归模型进行二分类及使用机器学习算法等。通过本书，你还将学习如何预测客户需求、优化营销活动、减少客户流失、预测网站流量，以及构建推荐系统等。

本书共十一章，按玄关及走廊、客厅、餐厅、卧室、儿童房、衣帽间、书房、厨房、卫浴间、休闲及娱乐空间和细节区域十一个功能空间进行划分，结合各个空间的特点直接给出照明设计思路和设计原则，并通过实景图、照明平面图与漫画插图相结合的方式展现具体的设计手法。本书可供室内设计专业人员和在校学生使用，也可作为大专院校建筑、室内环境艺术专业的教学参考书。

本书共10章。前4章是深度学习的基础，阐述深度学习的概念、算法基础和结构基础以及深度学习环境的配置方法和步骤。后6章是深度学习的实战部分，分别从6个不同的应用领域论述并分析如何通过改造深度学习模型或者利用不同的深度学习模型完成实际的工作任务，最终目的是希望通过这些科研成果与实践案例，使读者能够针对不同领域的科学技术问题逐步获得具有普适意义的工作思路和解决方法。本书提供练习和参考答案，以及配套的演示文稿（PPT）电子课件，可以扫码获取本书配套资源，也可以从化学工业出版社化工教育（www.ci

本书以DAPVI型单晶金刚石机械刃磨设备为实验平台，以单晶金刚石圆弧刀具为研究对象，首先将刃磨过程的振动、声发射信号分析技术综合应用于单晶金刚石刀具刃磨控制技术中，研究刃磨过程声音信号、振动信号分析处理方法，建立特征参数与刃磨方向之间的映射关系，确定特征参数，并搭建系统模型；其次，提出了基于改进粒子群算法优化径向基函数神经网络的多信息融合刀具刃磨方向在线识别方法，在此基础上，提出了基于步进搜索法的刀具刃磨方向在线优化控制方法；再次，提出了一种基于模糊神经网络－鲁棒－内模控制的刀具刃磨振动控制方法

本书共12章，开篇明确适用读者与所需预备知识，介绍后续使用工具，接着阐述仿真发展历史、QEMU系统仿真器及其执行模式与模糊测试等基础内容。随后，通过多个案例，如结合QEMU与AFL识别VLC安全漏洞、三星Exynos基带漏洞分析、OpenWrt全系统模糊测试及针对ARM架构的模糊测试，以及iOS、Android系统的相关测试等，讲解仿真与模糊测试的实际应用。最后，总结了模糊测试的研究发现、影响及未来方向。

本书将带领读者踏上量子计算的奇妙旅程。本书清晰地解读了量子计算的核心概念，如叠加、纠缠和幺正变换，展示了这些理论如何重新定义信息处理。通过丰富的类比、历史故事，以及幽默的语言，本书揭示了量子计算在密码学、材料科学、药物研发等领域的巨大潜力。此外，本书深入探索了希尔伯特空间、量子算法的工作原理，以及实验挑战。 无论您是科技迷、学生，还是想了解前沿科技的普通读者，本书都能为您揭开量子计算的奥秘。

本书是畅销书深度学习入门&进阶系列第五本书，主要围绕生成模型进行讲解。生成模型是一种非常重要的技术，对于人工智能的发展有着重要的作用。本书延续了作者通俗易懂的行文风格，以深入浅出的方式介绍正态分布到扩散模型所涉及的技术，并最终完成一个类似于Stable Diffusion的图像生成人工智能。读者可在创建这个图像生成人工智能的过程中学习各类技术，边做边思考，体会到技术的有趣之处蕴藏在各个细节中这一点，从而加深对生成模型的理解。

本书深入探讨了制造业数字化转型的关键要素和实施路径，通过介绍中国、美国、日本、德国等的具体案例，解析了数字化转型的内涵、现状与进展及其对经济价值和行业成熟度的影响。内容涵盖了生产系统过程自动化，包括在加工过程、产品组装和物流运输中的应用，以及人工智能和边缘计算技术在自动化发展中的关键作用；智能生产数字化信息系统，介绍了ERP、MES和SPC的功能及应用；制造系统虚拟量测技术，涉及数据预处理、预测建模和漂移检测等；生产系统预测性维护与健康管理，讨论了健康管理的概念、异常诊断、剩余使用寿命预测

本书以“数据驱动－模型构建－场景应用”为主线，通过AI辅助锂电池材料设计开发、AI辅助电池先进表征技术、AI辅助电池器件开发平台、AI辅助电池状态感知与寿命预测技术等四个部分构建起完整的学科交叉体系，揭示人工智能重构能源技术创新的底层逻辑。

本书共包含9章的内容。SSD测试概述(第1章)，介绍SSD和SSD测试相关的基础知识。(第2-5章)，首先基于立项、计划、设计与开发、执行、总结这几个阶段介绍SSD测试的主要工作内容及对应实现方法，然后分享SSD测试的分类以及不同类型测试的设计与实现方法，最后解读SSD的通用测试平台、测试软件和专用测试平台。(第6章)，剖析用于主控芯片测试的主要软硬件平台，及在对应平台上进行主控芯片测试的方法。闪存测试(第7章)，深入分析闪存的失效模式，以及闪存测试的主要方法。测试认证(第8章)，完整解读业界主